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Product CategorySUPER MAPPER PLUS (SMC+)近視防控鏡片光學分析儀基于Rotlex專有的摩爾偏折技術,利用波前透射方式獲得整個測量區域內多達2500萬個點的屈光度,從而獲得鏡片的各種屈光細節。 SMC具有測量動態范圍廣,精度高等特點,幾乎適用于所有類型的眼鏡鏡片或其他類似產品,如單焦點,散光,多焦點和各種環狀離焦型及多點離焦型近視防控鏡片。
SUPER MAPPER (SMC)超級地形圖儀基于Rotlex專有的摩爾偏折技術,利用波前透射方式獲得整個測量區域內多達約兩百萬個點的屈光度,從而得到鏡片的各種屈光細節。 SMC具有測量動態范圍廣,精度高等特點,幾乎適用于所有類型的眼鏡鏡片或其他類似產品,如單焦點,散光,多焦點和各種環狀離焦型及多點離焦型近視防控鏡片。
FFV鏡片光學分析儀是一款高精度的鏡片屈光度地形圖測量設備,除了擁有Mapper(FFA)的所有特點外,FFV還*自由曲面模擬和比較模塊,特別適用于自由曲面加工業。
Mapper(FFA)鏡片光學分析儀是FFV的簡化版,是一款高精度的鏡片屈光度地形圖測量設備,結合了摩爾條紋干涉和雙光柵LAU效應的測量光路更加簡潔耐用,是行業內*的測量設備。
Class-Plus鏡片光學分析儀(旗艦版)是一款革命性的眼鏡片檢驗設備,于鏡片工廠和實驗室檢查整個鏡片的光學分布情況,使用了專有的莫爾條紋干涉技術,具有速度快,精度高,數據多的特點。