從原料源頭把控產(chǎn)品品質(zhì)
良好的性能來自一絲不茍的執(zhí)著13020298877
當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 眼鏡產(chǎn)品及護(hù)目鏡檢驗設(shè)備 > 透射/反射/折射/霧度測量 > ST-20R鏡片反射比測量裝置(進(jìn)階版)
簡要描述:ST-20R 鏡片反射比測量裝置(進(jìn)階版)是一臺專業(yè)用于測試鍍有減反膜鏡片的精密光學(xué)儀器,采用雙光束光路系統(tǒng),測量更加準(zhǔn)確穩(wěn)定。可*國標(biāo)GB10810.4等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于對減反膜鏡片光譜反射比、光反射比、平均反射比、膜層均勻性等相關(guān)參數(shù)的測量要求。
詳細(xì)介紹
ST-20R 鏡片反射比測量裝置采用中文人機(jī)對話的操作方式,簡便易學(xué)。大屏幕液晶顯示屏上的菜單對每一個對應(yīng)的操作步驟進(jìn)行選擇和認(rèn)可,即能完成你所需的功能。該儀器燈源的更換一改過去國產(chǎn)儀器繁瑣的方法,整個燈源的更換操作,用戶只需旋動幾個螺絲即可完成,無需進(jìn)行繁瑣的對光調(diào)整即能保證燈源處于原來的合適位置。
ST-20R 儀器的軟件程序設(shè)計具有自動保護(hù)功能,確保儀器在萬一操作失誤時仍能及時恢復(fù)正常工作。由于儀器內(nèi)藏式微處理機(jī)系統(tǒng)的強大作用,加上優(yōu)良的光學(xué)、電路系統(tǒng)和合理的機(jī)械結(jié)構(gòu),并采用大屏幕液晶顯示,將為各行業(yè)實驗室的分析測試工作提供十分有效而直觀的手段。
產(chǎn)品特點
1. 鏡片反射比測量裝置具有良好的結(jié)構(gòu)設(shè)計和精密的雙光束光學(xué)系統(tǒng),儀器準(zhǔn)確度、重現(xiàn)性、雜光指標(biāo)良好,測量簡單快速,質(zhì)量穩(wěn)定可靠,電源電壓范圍寬。
2. 鏡片反射比測量裝置的關(guān)鍵部件均選用進(jìn)口器件,濱松無臭氧環(huán)保型氘燈,德國歐士朗鎢燈,美國派來茲檢測器。保證了儀器性能的高可靠性。
3. 鏡片反射比測量裝置具有開放式的樣品室設(shè)計,通過樣品架可非常方便地測試鏡片的反射率。
主要技術(shù)指標(biāo)
波長范圍: | 190nm~1100nm |
波長大允許誤差: | ±0.3nm |
波長重復(fù)性: | ≤0.2nm |
透射比測量范圍: | 0~999% |
吸光度測量范圍: | -4.000~4.000A |
透射比大允許誤差: | ±0.3% ±0.002Abs(0.5Abs處)、 ±0.004Abs(1.0Abs處)、 ±0.006Abs(2.0Abs處) |
透射比重復(fù)性: | ≤0.15% ±0.001Abs(0.5Abs)、±0.002Abs(1.0Abs) |
漂移: | ≤0.0004A/h(開機(jī)1小時后,500nm處) |
基線平直性: | ±0.001A |
雜散光: | ≤0.05% (220nm NaI溶液,360nm NaNO2) |
噪聲: | 100%線噪聲≤0.2%;0% 線噪聲≤0.1% |
掃描速度: | 波長移動:約3000nm/min,波長掃描:24nm/min-1400nm/min |
小光譜帶寬: | 3.0nm |
測量界面和測試報告范本:
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